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项目 |
规范条件 |
规范名称(中文) |
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0 |
MIL-STD 810F系列 |
环境工程条件和试验室测试试验方法 |
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1 |
MIL-STD-810F-500.4 |
低气压（高度） |
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2 |
MIL-STD-810F-501.4 |
高温 |
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3 |
MIL-STD-810F-502.4 |
低温 |
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4 |
MIL-STD-810F-503.5 |
温度冲击 |
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5 |
MIL-STD-810F-504 |
液体污染 |
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6 |
MIL-STD-810F-505.4 |
太阳辐射（日照） |
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7 |
MIL-STD-810F-506.4 |
淋雨 |
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8 |
MIL-STD-810F-507.4 |
湿度 |
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9 |
MIL-STD-810F-508.5 |
霉菌 |
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10 |
MIL-STD-810F-509.4 |
雾 |
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11 |
MIL-STD-810F-510.4 |
砂间 |
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12 |
MIL-STD-810F-511.4 |
爆炸性大气 |
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13 |
MIL-STD-810F-512.4 |
浸渍 |
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14 |
MIL-STD-810F-513.5 |
加速度 |
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15 |
MIL-STD-810F-514.5 |
振动 |
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16 |
MIL-STD-810F-515.5 |
噪音 |
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17 |
MIL-STD-810F-516.4 |
冲击 |
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18 |
MIL-STD-810F-517 |
爆炸分离冲击 |
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19 |
MIL-STD-810F-518 |
酸性大气 |
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20 |
MIL-STD-810F-519 |
炮击振动 |
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21 |
MIL-STD-810F-520.2 |
温度-湿度-振动-高度 |
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22 |
MIL-STD-810F-521.2 |
积冰/冻雨 |
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23 |
MIL-STD-810F-522 |
弹道冲击 |
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24 |
MIL-STD-810F-523.2 |
振声/温度 |
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25 |
MIL-STD-462D |
电磁干扰特性测量 |
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26 |
MIL-S-19500H |
半导体器件总规范 |
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27 |
MIL-STD-750C |
半导体器件试验方法 |
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28 |
MIL-STD-883E-1004.7 |
抗湿性 |
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29 |
MIL-STD-883E-1005.8 |
稳定状态寿命 |
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30 |
MIL-STD-883E-1006 |
间歇寿命 |
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31 |
MIL-STD-883E-1010.7 |
温度循环 |
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32 |
MIL-STD-883E-1011.9 |
热冲击 |
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33 |
MIL-STD-883E-1015.9 |
老化试验 |
