本设备同时适用于电池及组件的早期光致衰减试验。早期光致衰减现象将导致功率的降低，造成客户的损失，导致投诉现象的频繁发生。由于相同工艺电池片的衰减速率不一致，导致组件在使用过程中将会电流的不匹配，这样的不匹配不光是造成组件功率的大幅降低，同时还使得衰减速率高的电池片产生较大的内阻，消耗部分组件功率，造成局部过热，导致材料的损坏。
本设备具有辐照面积大、强度自动校准、衰减可控，辐照量准确，光源稳定等特点。
| 技术规格 | |
| 有效面积 | 2000mm×1600mm |
| 辐照强度 | 500W/m2～1200W/m2，连续可调 |
| 光谱分布 | AM1.5 |
| 辐照不均匀性 | <±9% |
| 辐照不稳定度 | <±2% |
| 光谱失配误差 | <0.4～2.0 |
| 温度测试精度 | <±1℃ |
| 强制风冷 | 温度<50℃ |
| 其他 | 辐照强度自动校准功能，均匀性自动调节功能，辐照度自动累计功能，测试时间自动累计功能；短路、断路自动保护功能，静电消除功能。 |
